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Integrating reliability into microelectronics manufacturing
Design and measurement in electronic engineering
1994
Signatur: YFB2637

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Integrating reliability into microelectronics manufacturing
Ist Teil von
  • Design and measurement in electronic engineering
Ort / Verlag
Chichester [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1994
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0471944076
OCLC-Nummer: 832310563, 832310563
Titel-ID: 990006571440106463
Format
IX, 349 S. : graph. Darst., Tab.
Systemstelle
YFB
Schlagworte
Halbleitertechnologie, Zuverlässigkeit

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