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Electromigration and electronic device degradation
A Wiley-Interscience publication
1994
Signatur: YFC1173
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Reliability of gallium arsenide MMICs
Design and measurement in electronic engineering
1992
Signatur: YEP2691
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Integrating reliability into microelectronics manufacturing
Design and measurement in electronic engineering
1994
Signatur: YFB2637
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