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Hyperfine interaction of defects in semiconductors
1992
Signatur: UIU3400

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Hyperfine interaction of defects in semiconductors
Ort / Verlag
Amsterdam [u.a.] : Elsevier
Erscheinungsjahr
1992
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 044489134x
OCLC-Nummer: 636448367, 636448367
Titel-ID: 990006056090106463
Format
IX, 458 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIQ, UIO, UIU
Schlagworte
Hyperfeinwechselwirkung, Gitterbaufehler, Halbleiter

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