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Applications of neutron diffraction in chemistry

THE INTERNATIONAL ENCYCLOPEDIA OF CHEMICAL CHEMISTRY AND CHEMICAL PHYSICS. TOPIC 11. THE IDEAL CRYSTALLINE STATE. 1.

Bacon, George E

1963

Signatur: UIO1123

Ultraschallmessungen an amorphen Au x Sn 1-x -Filmen bei tiefen Temperaturen

Chen, Jiewei

1992

Signatur: DQ1606

Landau level spectroscopy. 2

Landau level spectroscopy (Alle Bände)

Landwehr, Gottfried[Herausgeber]

1991

Signatur: UIO1856-2

The system ZrCo-H : a transmission electron microscopy study

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2503 (Alle Bände)

1991

Signatur: MQ1520

Elektronen-Spin-Resonanz-Datierung an Silikaten : Grundlagen, Systematik und Anwendung am Beispiel von Quarzen und Feuersteinen

Walther, Ralf

1995

Signatur: DQ1886

NMR- und ESR-Experimente zur Spindynamik in Radikalkationensalzen

Grauf, Werner

1988

Signatur: D1491

The modelling of dislocations in semiconductor crystals [Elektronische Ressource]

Blumenau, Alexander Thorsten

2002

Link zum Volltext
Volltext

Strukturuntersuchungen von adsorbatinduzierten Rekonstruktionen der Ni(110)- und Cu 3 Au(110)-Oberfläche mit niederenergetischer Ionenstreuung und Rastertunnelmikroskopie

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 3083 (Alle Bände)

Voetz, Matthias

1995

Signatur: MQ5969

MICROSTRUCTURES OF SURFACES. USING INTERFEROMETRY

Tolansky, Samuel

1968

Signatur: UIO1220

Bestimmung der elektrischen Feldgradienten in Oxyden mit Korundstruktur mittels der gestörten Winkelkorrelation der Gamma-gamma-Kaskade des 111Cd

Kesten, Jürgen

1989

Signatur: D1392

Crystallography and its applications

GLASSER, L S

1977

Signatur: UIO1385

Analysis of thermally stimulated processes

International series on the science of the solid state : 15 (Alle Bände)

1. ed, 1981

Signatur: UIO1555

Ein absolutes Thermometer für Temperaturen unter 1 mK : Kern-Quadrupolresonanz an Gallium-Einkristallen

Hübner, Michael

1997

Signatur: D12012

Bestimmung lokaler nanometrischer Materialeigenschaften durch ein rastersondenmikroskopisches Hybridsystem

Maywald, Martin

1996

Signatur: D10748

Untersuchung bestrahlungsinduzierter Punktdefekte in Halbleitern mit diffuser Röntgenstreuung

Berichte des Forschungszentrums Jülich : 2795 (Alle Bände)

Karsten, Kuno

1993

Signatur: MQ3877

Flache Donatoren in Galliumnitrid : optisch detektierte, paramagnetische Resonanz unter hohem Druck [Elektronische Ressource]

Michael, Karsten

2000

Link zum Volltext
Volltext

An introduction to X-ray crystallography

Woolfson, Michael M

1978

Signatur: UIO1369

Experimentelle Bestimmung von Triplett- und Quartettphasenbeziehungen im Vierstrahlfall : neue Möglichkeiten in der Röntgenstrukturanalyse

Bondza, Harald

1988

Signatur: D1655

X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons

1990

Signatur: UIO1880

Charakterisierung von InGaAs(P)-Quantentöpfen mit optischen und elektro- optischen Methoden

Wolter, Karl

1991

Signatur: D5890

Resonante Raman-Streuung an LO-Phononen in II-VI-Halbleitern [Halbleitern

Limmer, Wolfgang

1988

Signatur: D749

Charakterisierung von Oberflächeneigenschaften und mikrotribologischen Wechselwirkungen an Si- und SiC-Einkristallen mit dem Rasterkraftmikroskop

Wissenschaftliche Berichte / Forschungszentrum Karlsruhe, Technik und Umwelt : 6503 (Alle Bände)

Pöhlmann, Klaus

Als Ms. gedr, 2000

Signatur: UIO2276

Quantitative X-ray diffractometry

1995

Signatur: UIO2145

Neutronenstreuexperimente an Co, CsI, CeO 2 und Zr 0.85 Ca 0.15 O 1.85 zur Untersuchung der Gitterdynamik im Zusammenhang mit martensitischen Phasenumwandlungen und Fehlordnung

Strauss, Bernhard

1995

Signatur: D11293

Kapazitätsspektroskopie an Kupferdefekten in Silizium

Prescha, Thomas

1990

Signatur: D3630

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Quantitative X-ray diffractometry

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