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2014
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IEEE electron device letters, 2016-08, Vol.37 (8), p.994-997
2016
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2020
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IEEE electron device letters, 2018-08, Vol.39 (8), p.1207-1210
2018
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2017
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2019
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, p.T154-T155
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2016
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2019
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IEEE transactions on electron devices, 2017-10, Vol.64 (10), p.4091-4098
2017
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Corrosion science, 2020-12, Vol.177, p.108982, Article 108982
2020
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IEEE electron device letters, 2016-09, Vol.37 (9), p.1123-1126
2016
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2012
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IEEE electron device letters, 2024-03, Vol.45 (3), p.376-379
2024
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IEEE electron device letters, 2019-11, Vol.40 (11), p.1744-1747
2019
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IEEE electron device letters, 2017-10, Vol.38 (10), p.1379-1382
2017
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IEEE electron device letters, 2015-04, Vol.36 (4), p.294-296
2015
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Angewandte Chemie International Edition, 2022-10, Vol.61 (43), p.e202209122-n/a
International ed. in English, 2022
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Applied physics letters, 2022-04, Vol.120 (15)
2022
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IEEE electron device letters, 2018-05, Vol.39 (5), p.664-667
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2023-04, Vol.70 (4), p.1520-1526
2023
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