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IEEE transactions on circuits and systems. 1, Fundamental theory and applications, 2005-12, Vol.52 (12), p.2515-2525
2005
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IEEE transactions on electron devices, 2018-11, Vol.65 (11), p.5145-5150
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2017-11, Vol.64 (11), p.4587-4593
- Witters, L.
- Arimura, H.
- Sebaai, F.
- Hikavyy, A.
- Milenin, A. P.
- Loo, R.
- De Keersgieter, A.
- Eneman, G.
- Schram, T.
- Wostyn, K.
- Devriendt, K.
- Schulze, A.
- Lieten, R.
- Bilodeau, S.
- Cooper, E.
- Storck, P.
- Chiu, E.
- Vrancken, C.
- Favia, P.
- Vancoille, E.
- Mitard, J.
- Langer, R.
- Opdebeeck, A.
- Holsteyns, F.
- Waldron, N.
- Barla, K.
- De Heyn, V.
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
2017
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IEEE transactions on electron devices, 2019-12, Vol.66 (12), p.5387-5392
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2018-11, Vol.65 (11), p.5165-5171
- Vandooren, A.
- Franco, J.
- Parvais, B.
- Wu, Z.
- Witters, L.
- Walke, A.
- Li, W.
- Peng, L.
- Deshpande, V.
- Bufler, F. M.
- Rassoul, N.
- Hellings, G.
- Jamieson, G.
- Inoue, F.
- Verbinnen, G.
- Devriendt, K.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- Vecchio, E.
- Zheng, T.
- Rosseel, E.
- Vanherle, W.
- Hikavyy, A.
- Chan, B. T.
- Ritzenthaler, R.
- Besnard, G.
- Schwarzenbach, W.
- Gaudin, G.
- Radu, I.
- Nguyen, B.-Y.
- Waldron, N.
- De Heyn, V.
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
2018
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IEEE journal of solid-state circuits, 2007-12, Vol.42 (12), p.2860-2869
2007
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IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2007-11, Vol.54 (11), p.2541-2551
2007
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IEEE transactions on electron devices, 2019-12, Vol.66 (12), p.5387-5392
2019
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T94-T95
- Capogreco, E.
- Arimura, H.
- Witters, L.
- Vohra, A.
- Porret, C.
- Loo, R.
- De Keersgieter, A.
- Dupuy, E.
- Marinov, D.
- Hikavyy, A.
- Sebaai, F.
- Mannaert, G.
- Ragnarsson, L.-A.
- Siew, Y. K.
- Vrancken, C.
- Opdebeeck, A.
- Mitard, J.
- Langer, R.
- Sanchez, E. Altamirano
- Holstetns, F.
- Demuynck, S.
- Barla, K.
- De Heyn, V.
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
- Horiguchi, N.
2019
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T56-T57
- Vandooren, A.
- Wu, Z.
- Khaled, A.
- Franco, J.
- Parvais, B.
- Li, W.
- Witters, L.
- Walke, A.
- Peng, L.
- Rassoul, N.
- Matagne, P.
- Debruyn, H.
- Jamieson, G.
- Inoue, F.
- Devriendt, K.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- Vecchio, E.
- Zheng, T.
- Radisic, D.
- Rosseel, E.
- Vanherle, W.
- Hikavyy, A.
- Chan, B. T.
- Besnard, G.
- Schwarzenbach, W.
- Gaudin, G.
- Radu, I.
- Nguyen, B.-Y.
- Waldron, N.
- De Heyn, V.
- Demuynck, S.
- Boemmels, J.
- Ryckaert, J.
- Collaert, N.
- Mocuta, D.
2019
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, p.T196-T197
2017
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.193-194
2018
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T92-T93
2019
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, p.T194-T195
- Witters, L.
- Sebaai, F.
- Hikavyy, A.
- Milenin, A. P.
- Loo, R.
- De Keersgieter, A.
- Eneman, G.
- Schram, T.
- Wostyn, K.
- Devriendt, K.
- Schulze, A.
- Lieten, R.
- Bilodeau, S.
- Cooper, E.
- Storck, P.
- Vrancken, C.
- Arimura, H.
- Favia, P.
- Vancoille, E.
- Mitard, J.
- Langer, R.
- Opdebeeck, A.
- Holsteyns, F.
- Waldron, N.
- Barla, K.
- De Heyn, V.
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
2017
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Microelectronics and reliability, 2001-03, Vol.41 (3), p.375-383
2001
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.69-70
- Vandooren, A.
- Franco, J.
- Parvais, B.
- Wu, Z.
- Witters, L.
- Walke, A.
- Li, W.
- Peng, L.
- Desphande, V.
- Bufler, F.M.
- Rassoul, N.
- Hellings, G.
- Jamieson, G.
- Inoue, F.
- Verbinnen, G.
- Devriendt, K.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- Vecchio, E.
- Zheng, T.
- Rosseel, E.
- Vanherle, W.
- Hikavyy, A.
- Chan, B. T.
- Ritzenthaler, R.
- Besnard, G.
- Schwarzenbach, W.
- Gaudin, G.
- Radu, I.
- Nguyen, B.-Y.
- Waldron, N.
- Heyn, V. De
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
2018
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2008 IEEE International Solid-State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, 2008, p.528-633
2008
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Microelectronics and reliability, 2005-02, Vol.45 (2), p.269-277
2005
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ESSCIRC 2007 - 33rd European Solid-State Circuits Conference, 2007, p.484-487
2007
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.34.2.1-34.2.4
2018
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.7.1.1-7.1.4
- Vandooren, A.
- Franco, J.
- Wu, Z.
- Parvais, B.
- Li, W.
- Witters, L.
- Walke, A.
- Peng, L.
- Deshpande, V.
- Rassoul, N.
- Hellings, G.
- Jamieson, G.
- Inoue, F.
- Devriendt, K.
- Teugels, L.
- Heylen, N.
- Vecchio, E.
- Zheng, T.
- Rosseel, E.
- Vanherle, W.
- Hikavyy, A.
- Mannaert, G.
- Chan, B. T.
- Ritzenthaler, R.
- Mitard, J.
- Ragnarsson, L.
- Waldron, N.
- De Heyn, V.
- Demuynck, S.
- Boemmels, J.
- Mocuta, D.
- Ryckaert, J.
- Collaert, N.
2018
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2006 IEEE International Conference on IC Design and Technology, 2006, p.1-4
2006
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Microelectronics and reliability, 2002-06, Vol.42 (6), p.901-907
2002
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2018 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT), 2018, p.145-148
2018
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Journal of electrostatics, 2004-10, Vol.62 (2), p.133-153
2004
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