Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Atomic scale characterization and first-principles studies of Si3N4 interfaces
- Ist Teil von
- Springer theses
- Ort / Verlag
- New York [u.a.] : Springer
- Erscheinungsjahr
- 2011
- Beschreibungen/Notizen
- Chicago, Univ., Diss., 2009
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISBN: 9781441978165, 144197816XOCLC-Nummer: 1106841218, 1106841218Titel-ID: 990014491390106463
- Format
- XIII, 108 S. : Ill., graph. Darst.
- Systemstelle
- UIO
- Schlagworte
- Ceramic materials, Semiconductors, Scanning transmission electron microscopy