Autor(en)
Langhanki, Bertram
Titel
Electron paramagnetic resonance of process induced defects in silicon
Erscheinungsjahr
2001
Verknüpfte Titel
Beschreibungen
Paderborn, Univ., Diss., 2001
Format
122 S. : graph. Darst.
Sprache(n)
Englisch
Identifikator(en)

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Magazin
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