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Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991. 2
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors (Alle Bände)
1992
Signatur: UIM1628-83/87,2

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991. 2
Ist Teil von
Ort / Verlag
Zürich [u.a.] : Trans Tech Publ.
Erscheinungsjahr
1992
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067839993, 1067839993
Titel-ID: 990005902540106463
Format
S. 539 -1080 : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIM

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