International Conference on Defects in Semiconductors (16 : 1991 : Bethlehem, Pa.)

Art des Eintrags

Konferenz oder Veranstaltung

Bevorzugter Name

International Conference on Defects in Semiconductors (16 : 1991 : Bethlehem, Pa.)

Variante Namen

• ICDS (16 : 1991 : Bethlehem, Pa.)

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Geographische Zuordnung

• USA

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GND-ID

3010514-6

Mehr Informationen

• lobid.org
• Deutsche Nationalbibliothek (DNB)

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