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Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991. 1
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors
(
Alle Bände
)
International Conference on Defects in Semiconductors
Davies, Gordon
[Herausgeber]
1992
Signatur:
UIM1628-83/87,1
Details
Autor(en) / Beteiligte
International Conference on Defects in Semiconductors
Davies, Gordon
[Herausgeber]
Titel
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22 - 26 July 1991. 1
Ist Teil von
Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors
(
Alle Bände
)
Ort / Verlag
Zürich [u.a.] : Trans Tech Publ.
Erscheinungsjahr
1992
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1067748605, 1067748605
Titel-ID: 990005902530106463
Format
538 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIM
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