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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Technische Statistik in der Qualitätssicherung : Grundlagen Für Produktions-Und Verfahrenstechnik
Auflage
First edition
Ort / Verlag
Berlin, Germany : Springer-Verlag,
Erscheinungsjahr
[1999]
Link zum Volltext
Beschreibungen/Notizen
  • 1 Einführung in die statistischen Methoden der Qualitätssicherung. -- 1.1 Elementare Regeln der Wahrscheinlichkeitsrechnung -- 1.2 Diskrete Verteilungen -- 1.3 Parameter und Kennwerte bei zählender Prüfung -- 1.4 Stetige Verteilungen -- 1.5 Parameter und Kennwerte bei messender Prüfung -- 1.6 Zentraler Grenzwertsatz und Standard-Normalverteilung -- 2 Statistische Verteilungen -- 2.1 Hypergeometrische Verteilung -- 2.2 Binomialverteilung -- 2.3 Poisson-Verteilung -- 2.4 Normalverteilung -- 2.5 Näherung diskreter Verteilungen durch eine Normalverteilung -- 2.6 Chi-Quadrat-Verteilung -- 2.7 t-Verteilung -- 2.8 F-Verteilung -- 2.9 w-Verteilung -- 2.10 Thompson-Verteilung -- 2.11 Exponentialverteilung -- 2.12 Weibull-Verteilung -- 2.13 Weitere wichtige Verteilungen -- 2.14 Übersicht wichtiger Verteilungen -- 3 Der direkte Schluß — Zufallsstreubereiche -- 3.1 Zufallsstreubereiche der Binomialverteilung -- 3.2 Zufallsstreubereiche der Poisson-Verteilung -- 3.3 Zufallsstreubereiche bei normalverteilten Merkmalen -- 3.4 Zufallsstreubereiche von Mittelwert und Median bei Normalverteilung -- 3.5 Näherung durch Normalverteilung bei diskreten Merkmalswerten -- 3.6 Zufallsstreubereiche der Chi-Quadrat-Verteilung -- 3.7 Zufallsstreubereiche der t-Verteilung -- 3.8 Zufallsstreubereiche der F-Verteilung -- 4 Der indirekte Schluß — Schätzwerte und Vertrauensbereiche -- 4.1 Schätzmethoden bei attributiven Merkmalswerten -- 4.2 Rechnerische Schätzmethoden bei normalverteilten Merkmalen -- 4.3 Rechnerische Schätzung der Parameter von Lebensdauerverteilungen -- 4.4 Graphische Schätzmethoden bei kontinuierlichen Merkmalswerten. -- 5 Statistische Testverfahren zur Auswertung von Produktions-und Versuchsdaten -- 5.1 Testverfahren für den Anteil fehlerhafter Einheiten -- 5.2 Testverfahren für die Anzahl von Fehlern pro Einheit -- 6 Annahmeprüfung -- 6.1 Freie Vereinbarung -- 6.2 Vereinbarung normierterAQL-Prüfanweisungen -- 7 Statistische Prozeßsteuerung (SPC) -- 7.1 Vorlaufuntersuchungen -- 7.2 Entwurf von Shewhart-Regelkarten ohne Grenzwertvorgaben -- 7.3 Entwurf von Shewhart-Regelkarten mit Grenzwertvorgaben. -- 7.4 Qualitätskennzahlen -- Anhang A. Aufgaben -- Aufgaben zu Kapitel 1 -- Aufgaben zu Kapitel 2 -- Aufgaben zu Kapitel 3 -- Aufgaben zu Kapitel 4 -- Aufgaben zu Kapitel 5 -- Aufgaben zu Kapitel 6 -- Aufgaben zu Kapitel 7 -- Anhang B: Tabellen -- Tabelle B 1. Binomialverteilung -- Tabelle B2. Poisson-Verteilung -- Tabelle B3. Standard-Normalverteilung -- Tabelle B4. Quantile der Standard-Normalverteilung -- Tabelle B5. Quantile der Chi-Quadrat-Verteilung -- Tabelle B6. Quantile der t-Verteilung -- Tabelle B7. Quantile der F-Verteilung -- Tabelle B8. Quantile der w-Verteilung -- Tabelle B11. Koeffizienten zur Schätzung der Standardabweichung -- Tabelle B12. Abgrenzungsfaktoren von Urwert-,Mittelwert-und Mediankarten -- Tabelle B13. Abgrenzungsfaktoren von s-und R-Karten -- Tabelle B 16. Kennbuchstabe für den Stichprobenumfang nach DIN ISO 2859 Teil 1 (DIN 40 080) -- Tabelle B17. Stichprobenumfang nach DIN ISO 2859 Teil 1 -- Tabelle B18. Einfach-Stichprobenanweisungen für -- normale Prüfung nach DIN ISO 2859 Teil 1 -- Tabelle B19. Einfach-Stichprobenanweisungen für -- verschärfte Prüfung nach DIN ISO 2859 Teil 1 -- Tabelle B20. Einfach-Stichprobenanweisungen für -- reduzierte Prüfung nach DIN ISO 2859 Teil 1 -- Anhang C: Lösungen -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 1 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 2 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 3 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 4 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 5 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 6 -- Lösungen der Aufgaben zu Kapitel 7 -- Anhang D: Nomogramme und Auswertenetze -- Nomogramm D1. Larson-Nomogramm (Fehlerhafte Einheiten) -- Nomogramm D2. Thorndike-Nomogramm (Fehler pro Einheit) -- Nomogramm D7. Wilrich-Nomogramm für Urwertkarten bei vorgegebenen Grenzwerten -- Auswertenetz D8. Wahrscheinlichkeitsnetz für annähernd normalverteilte Merkmalswerte -- Auswertenetz D9. Lebensdauernetz für Weibull-verteilte Merkmalswerte -- Literatur.
  • Der starke Konkurrenzkampf am Markt fordert von den Unternehmen eine ständige Verbesserung der Qualität von Produkten und Prozessen. Wesentliche Voraussetzung dazu ist die systematische Aufnahme und Analyse von qualitätsrelevanten Daten. Dieses Buch stellt für die Produktion und die Verfahrenstechnik eine umfassende Auswahl geeigneter Methoden zur Verfügung. Es richtet sich sowohl an den praxisorientierten "Qualitätler" als auch an den angehenden Ingenieur und Naturwissenschaftler. Die zum Verständnis notwendigen Grundlagen werden durch Praxisbeispiele und Aufgaben aus dem betrieblichen Alltag vertieft. Durch die detaillierte Angabe von Lösungen ist somit die Möglichkeit zum Selbststudium ohne Einschränkung gegeben.
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Sprache
Identifikatoren
ISBN: 3-642-58577-9
DOI: 10.1007/978-3-642-58577-7
OCLC-Nummer: 1239987012
Titel-ID: 9925032773106463
Format
1 online resource (XVI, 398 S. 4 Abb.)
Schlagworte
Quality control, Chemical engineering, Surfaces (Physics)