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Quantitative X-ray diffractometry
1995
Signatur: UIO2145

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Quantitative X-ray diffractometry
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0387945415
OCLC-Nummer: 845029614, 845029614
Titel-ID: 990007075270106463
Format
XVII, 372 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UIF, UIO
Schlagworte
Röntgendiffraktometrie

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