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Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis
1996
Signatur: UIO2111

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis
Ort / Verlag
Cambridge : Cambridge Univ. Press
Erscheinungsjahr
1996
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0521482666
OCLC-Nummer: 610999918, 610999918
Titel-ID: 990006960570106463
Format
XIX, 436 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIY, UIO
Schlagworte
Reflexionselektronenmikroskopie, Oberflächenanalyse, Spektroskopie

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