Details

Autor(en) / Beteiligte
Oates, Anthony S.[Herausgeber]
Titel
Materials reliability in microelectronics V : symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A.
Ist Teil von
Erscheinungsort / Verlag
Pittsburgh, Pa. : MRS, Materials Research Society
Erscheinungsjahr
1995
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 1558992944
OCLC-Nummer: 635807825
Titel-ID: 990006802480106463
Format
XV, 523 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIU, XWQ
Schlagworte
Mikroelektronik, Werkstoff, Zuverlässigkeit

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