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Berührungslose Meßverfahren zur Bestimmung von Silizium-Materialeigenschaften für Solarzellenanwendungen
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 21 : 90
(
Alle Bände
)
Creutzburg, Uwe
Als Ms. gedr, 1991
Signatur:
XVW9300-90
Details
Autor(en) / Beteiligte
Creutzburg, Uwe
Titel
Berührungslose Meßverfahren zur Bestimmung von Silizium-Materialeigenschaften für Solarzellenanwendungen
Ist Teil von
Fortschritt-Berichte VDI : Reihe 21 : 90
(
Alle Bände
)
Auflage
Als Ms. gedr
Ort / Verlag
Düsseldorf : VDI-Verl.
Erscheinungsjahr
1991
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Inhaltsverzeichnis
Beschreibungen/Notizen
Bremen, Univ., Diss., 1991
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3181490210
OCLC-Nummer: 1070142078, 1070142078
Titel-ID: 990005670290106463
Format
II, 117 S. : Ill., zahlr. graph. Darst.
Systemstelle
XVW
Schlagworte
Solarzelle
,
Silicium
,
Polykristall
,
Ladungsträger
,
Lebensdauer
,
Berührungslose Messung
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