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X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons
1990
Signatur: UIO1880

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
X-ray diffraction by disordered lamellar structures : theory and applications to microdivided silicates and carbons
Ort / Verlag
Berlin [u.a.] : Springer
Erscheinungsjahr
1990
Beschreibungen/Notizen
  • Aus d. Franz. übers.
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 3540512225, 0387512225
OCLC-Nummer: 889172495, 889172495
Titel-ID: 990005483830106463
Format
XVII, 371 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIY, UIO
Schlagworte
Mikrokristall, Schichtgitter, Gitterbaufehler, Röntgenstrukturanalyse

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