Details

Autor(en) / Beteiligte
Institute of Physics
Titel
Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. 14. Paris, France, August 18-22, 1986, Pt. 2
Ist Teil von
Erscheinungsort / Verlag
Wechselnde Verlagsorte @ : wechselnde Verleger
Erscheinungsjahr
1986
Sprache
Identifikatoren
ISBN: 0878495517
Titel-ID: 990004437310106463
Format
XXVIII S., S.435 - 826 : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UAL
Schlagworte
Halbleiter, Gitterbaufehler

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