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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
1st ed., 2014
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Fundamentals of Radiation Effects
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.33-48
1, 2014
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Prediction, Detection and Classification Techniques of Faults, Errors and Failures
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.157-205
1, 2014
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Mitigation Techniques of Failures in Electronic Components and Systems
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.207-248
1, 2014
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Terrestrial Radiation Fields
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.23-32
1, 2014
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Fundamentals of Electronic Devices and Systems
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.49-59
1, 2014
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Irradiation Test Methods for Single Event Effects
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.61-105
1, 2014
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Integrated Device Level Simulation Techniques
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.107-155
1, 2014
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Summary
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014
1, 2014
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Appendices
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014
1, 2014
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Frontmatter
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014
1, 2014
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Index
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014
1, 2014
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Introduction
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014
1, 2014
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Summary
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.249-250
2014
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  • BibTeX
Introduction
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.1-22
2014
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Appendices
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, 2014, p.251-257
2014
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Radiation-Induced Soft Errors
VLSI Design and Test for Systems Dependability, p.57-127
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A Novel Feature of Neutron-Induced Multi-Cell Upsets in 130 and 180 nm SRAMs
IEEE transactions on nuclear science, 2007-08, Vol.54 (4), p.1030-1036
2007
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Spreading Diversity in Multi-cell Neutron-Induced Upsets with Device Scaling
IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2006, 2006, p.437-444
2006
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Versatility of SEU function and its derivation from the irradiation tests with well-defined white neutron beams
IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1562-1567
2005
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Quantification and mitigation strategies of neutron induced soft-errors in CMOS devices and components
2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.3C.2.1-3C.2.8
2011
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A Quantitative Analysis of Neutron-Induced Multi-Cell Upset in Deep Submicron SRAMs and of the Impact Due to Anomalous Noise
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.678-679
2007
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Fault-based reliable design-on-upper-bound of electronic systems for terrestrial radiation including muons, electrons, protons and low energy neutrons
2012 IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2012, p.49-54
2012
Open Access
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Radiation Chemistry of Radioactive Nitrogen Species in BWR Reactor Cores
Journal of nuclear science and technology, 1991-04, Vol.28 (4), p.347-355
1991
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Single event effects as a reliability issue of IT infrastructure
Third International Conference on Information Technology and Applications (ICITA'05), 2005, Vol.1, p.555-560 vol.1
2005
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