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International journal of computer applications, 2015-01, Vol.123 (16), p.1-5
2015
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Let It Encrypt (LIE)
International journal of computer applications, 2015-10, Vol.128 (8), p.9-15
2015
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Microelectronics and reliability, 1993, Vol.33 (1), p.7-12
1993
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Microelectronics and reliability, 1991, Vol.31 (1), p.39-41
1991
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Reliability engineering & system safety, 1989, Vol.26 (1), p.35-46
1989
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Microelectronics and reliability, 1992, Vol.32 (4), p.475-478
1992
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Microelectronics and reliability, 1990, Vol.30 (3), p.425-429
1990
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[1992] Proceedings Third International Symposium on Software Reliability Engineering, 1992, p.339
1992

Proceedings of 1994 1st International Conference on Software Testing, Reliability and Quality Assurance (STRQA'94), 1994, p.16-20
1994











Annals of "Spiru Haret" University. Economic Series (English ed.), 2010-06, Vol.10 (2), p.123-135
2010
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Food chemistry, 2004-09, Vol.87 (3), p.355-359
2004
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Journal of magnetism and magnetic materials, 2004-05, Vol.272, p.2326-2327
2004
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