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The CMS Beam Halo Monitor electronics
Journal of instrumentation, 2016-02, Vol.11 (2), p.C02039-C02039, Article C02039
2016
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New Fast Beam Conditions Monitoring (BCM1F) system for CMS
Journal of instrumentation, 2016-01, Vol.11 (1), p.C01088-C01088
2016
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A novel Beam Halo Monitor for the CMS experiment at the LHC
Journal of instrumentation, 2015-11, Vol.10 (11), p.P11011-P11011
2015
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High intensity profile monitor for time resolved spectrometry at the CLIC Test Facility 3
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2012-08, Vol.683, p.29-39
2012
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Corrigendum to "High intensity profile monitor for time resolved spectrometry at the CLIC Test Facility 3" [Nucl. Instrum. Methods: Phys. Res. A 683 (2012) 29–39]
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2013-11, Vol.729, p.963-963
2013
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Architecture of the upgraded BCM1F backend electronics for Beam Conditions and Luminosity measurement
Journal of instrumentation, 2015-02, Vol.10 (2), p.C02020-C02020
2015
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Silicon strip detectors for two-dimensional soft X-ray imaging at normal incidence
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2003-08, Vol.509 (1-3), p.333-339
2003
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Energy resolution of a silicon detector with the RX64 ASIC designed for X-ray imaging
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2003-12, Vol.515 (3), p.458-466
2003
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A silicon strip detector coupled to the RX64 ASIC for X-ray diagnostic imaging
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2003-11, Vol.514 (1-3), p.206-214
2003
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X-ray imaging with a silicon microstrip detector coupled to the RX64 ASIC
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2003-08, Vol.509 (1-3), p.315-320
2003
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Low temperature tempering-induced changes in bulk resistivity, temperature coefficient of resistivity and stress in physically vapor-deposited TiN
Surface & coatings technology, 1988-12, Vol.36 (3-4), p.605-616
1988
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