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2021
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IEEE access, 2021, Vol.9, p.155998-156012
2021
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2020
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2019
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2023
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Journal of electronic testing, 2024-04, Vol.40 (2), p.199-214
2024
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Microelectronics and reliability, 2018-01, Vol.80, p.241-248
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IEEE transactions on nuclear science, 2024-04, Vol.71 (4), p.1-1
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2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023, p.1-2
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2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.810-815
2020
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.810-815
2020
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2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-4
2020
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2018 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2018, p.1-6
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2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), 2024, p.1-11
2024
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2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, p.1-6
2023
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2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium (VTS), 2018, p.1-1
2018
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2024 IEEE 30th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2024, p.1-8
2024
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2021 IEEE 27th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2021, p.1-7
2021
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2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), 2022, p.136-141
2022
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