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Analyzing and Increasing the Reliability of Convolutional Neural Networks on GPUs
IEEE transactions on reliability, 2019-06, Vol.68 (2), p.663-677
2019
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On the Efficacy of ECC and the Benefits of FinFET Transistor Layout for GPU Reliability
IEEE transactions on nuclear science, 2018-08, Vol.65 (8), p.1843-1850
2018
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Evaluation and Mitigation of Radiation-Induced Soft Errors in Graphics Processing Units
IEEE transactions on computers, 2016-03, Vol.65 (3), p.791-804
2016
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Impact of Tensor Cores and Mixed Precision on the Reliability of Matrix Multiplication in GPUs
IEEE transactions on nuclear science, 2020-07, Vol.67 (7), p.1560-1565
2020
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Soft errors in DNN accelerators: A comprehensive review
Microelectronics and reliability, 2020-12, Vol.115, p.113969, Article 113969
2020
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Artificial Neural Networks for Space and Safety-Critical Applications: Reliability Issues and Potential Solutions
IEEE transactions on nuclear science, 2024, p.1-1
2024
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Analyzing the Impact of Radiation-Induced Failures in Programmable SoCs
IEEE transactions on nuclear science, 2016-08, Vol.63 (4), p.2217-2224
2016
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Understanding Logical-Shift Error Propagation in Quanvolutional Neural Networks
IEEE transactions on quantum engineering, 2024-01, Vol.5, p.1-14
2024
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Experimental and Analytical Analysis of Sorting Algorithms Error Criticality for HPC and Large Servers Applications
IEEE transactions on nuclear science, 2017-08, Vol.64 (8), p.2169-2178
2017
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FPGAs and Parallel Architectures for Aerospace Applications: Soft Errors and Fault-Tolerant Design
1, 2015
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Tensor Processing Unit Reliability Dependence on Temperature and Radiation Source
IEEE transactions on nuclear science, 2024, p.1-1
2024
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Neutron-Induced Failure in Silicon IGBTs, Silicon Super-Junction and SiC MOSFETs
IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.866-871
2012
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Evaluating the impact of execution parameters on program vulnerability in GPU applications
2018 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2018, p.809-814
2018
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Evaluating Neutron Induced SEE in SRAM-Based FPGA Protected by Hardware- and Software-Based Fault Tolerant Techniques
IEEE transactions on nuclear science, 2013-12, Vol.60 (6), p.4243-4250
2013
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Efficient Error Detection for Matrix Multiplication with Systolic Arrays on FPGAs
IEEE transactions on computers, 2023-08, Vol.72 (8), p.1-14
2023
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Atmospheric Neutron-Induced Fault Generation and Propagation in Quantum Bits and Quantum Circuits
IEEE transactions on nuclear science, 2023-04, Vol.70 (4), p.345-353
2023
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Soft Error Effects on Arm Microprocessors: Early Estimations versus Chip Measurements
IEEE transactions on computers, 2022-10, Vol.71 (10), p.2358-2369
2022
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Can GPU Performance Increase Faster Than the Code Error Rate?
The Journal of supercomputing, 2024-04, p.1-32
2024
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Can GPU Performance Increase Faster Than the Code Error Rate?
The Journal of supercomputing, 2024
2024
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High Energy and Thermal Neutron Sensitivity of Google Tensor Processing Units
IEEE transactions on nuclear science, 2022-03, Vol.69 (3), p.567-575
2022
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Evaluating Architectural, Redundancy, and Implementation Strategies for Radiation Hardening of FinFET Integrated Circuits
IEEE transactions on nuclear science, 2021-05, Vol.68 (5), p.1045-1053
2021
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Soft Error Effects on Arm Microprocessors: Early Estimations Versus Chip Measurements
Computer (Long Beach, Calif.), 2023-07, Vol.56 (7), p.4-6
2023
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Accurate FIT Rate Estimation Through High-Level Software Fault Injection
IEEE transactions on nuclear science, 2022-09, Vol.69 (9), p.2018-2026
2022
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Soft Error Effects on Arm Microprocessors: Early Estimations Versus Chip
Computer (Long Beach, Calif.), 2023-07, Vol.56 (7), p.4-6
2023
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Impact of High-Level-Synthesis on Reliability of Artificial Neural Network Hardware Accelerators
IEEE transactions on nuclear science, 2024, p.1-9
2024
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