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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE electron device letters, 2010-05, Vol.31 (5), p.488-490
- Perniola, Luca
- Sousa, Veronique
- Fantini, Andrea
- Arbaoui, Edrisse
- Bastard, Audrey
- Armand, Marilyn
- Fargeix, Alain
- Jahan, Carine
- Nodin, Jean-Francois
- Persico, Alain
- Blachier, Denis
- Toffoli, Alain
- Loubriat, Sebastien
- Gourvest, Emanuel
- Betti Beneventi, Giovanni
- Feldis, Helene
- Maitrejean, Sylvain
- Lhostis, Sandrine
- Roule, Anne
- Cueto, Olga
- Reimbold, Gilles
- Poupinet, Ludovic
- Billon, Thierry
- De Salvo, Barbara
- Bensahel, Daniel
- Mazoyer, Pascale
- Annunziata, Roberto
- Zuliani, Paola
- Boulanger, Fabien
2010
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IEEE transactions on electron devices, 2011-08, Vol.58 (8), p.2326-2336
2011
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2016-09, Vol.4 (5), p.314-320
2016
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IEEE transactions on electron devices, 2014-03, Vol.61 (3), p.793-800
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2015-11, Vol.62 (11), p.3482-3489
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2013-07, Vol.60 (7), p.2268-2275
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2014-03, Vol.61 (3), p.793-800
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2013-07, Vol.60 (7), p.2268-2275
2013
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.2B-2.1-2B-2.7
2017
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2017 International Conference of Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2017, p.1-5
2017
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IEEE transactions on electron devices, 2011, Vol.58 (8), p.2326-2336
2011
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Japanese Journal of Applied Physics, 1996-08, Vol.35 (8A), p.L971-L973
1996
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MRS proceedings, 2006, Vol.914, Article 0914-F09-07
2006
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2010 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2010, p.283-286
2010
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Solid-state electronics, 2006-04, Vol.50 (4), p.620-625
2006
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2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017, p.117-119
2017
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2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2008, p.210-213
2008
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2015 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2015, p.1-4
2015
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2013 Eurpoean Microelectronics Packaging Conference (EMPC), 2013, p.1-6
2013
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2008 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2008, p.76-78
2008
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2013 IEEE 63rd Electronic Components and Technology Conference, 2013, p.334-341
2013
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Journal of structural geology, 2020-08, Vol.137 (2), p.104083, Article 104083
2020
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Association des lecteurs de Claude Simon, 2019
- B. Duncan, Alastair
- Benaglia, Cecilia
- Berne, Vincent
- Bertrand, Michel
- Bishop, Tom
- De Toffoli, Ian
- Dvorak, Jan
- Even, Marc
- Genin, Christine
- Gignoux, Anne Claire
- Gleize, Joëlle
- Goulet, Andera
- Jost, François
- Jouvenot, Christian
- Kahn, Olivier
- Kotowska, Joanna
- Merllié, Françoise
- Nitsch, Wolfram
- Oppenheim, Lois
- Pinget, Robert
- Praz, Julien
- Pugh, Anthony Cheal
- Ravey, Yves
- Robbe-Grillet, Alain
- Rybalka, Michel
- Sarraute, Nathalie
- Simon, Claude
- Thalien, Brice
- Wightman, Megan
- Wittig, Monique
- Yapaudjian-Labat, Cécile
- Zemmour, David
2019
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Association des lecteurs de Claude Simon, 2016
- Alphant, Marianne
- Bernard, Georges
- Clément-Perrier, Annie
- De Toffoli, Ian
- De Vriese, Hannes
- Dubosclard, Geneviève
- Ferrato-Combe, Brigitte
- Froidevaux, Alain
- Gleize, Joëlle
- Gocel, Véronique
- Kerangal, Maylis De
- Lih, Emelyn
- Neefs, Jacques
- Palermo, Chiara
- Plaud, Rémi
- Sandras, Michel
- Sarkonak , Ralph
- Suter, Patrick
- Viart, Dominique
- Yapaudjian-Labat, Cécile
- Yocaris, Ilias
- Zemmour, Cécile Yapaudjian-Labat et David
- Zemmour, David
2016
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In situ (Paris), 2012-08, Vol.18
- Aubagnac, Gilles
- Blomac, Nicole de
- Bocard, Hélène
- Bourgain, Pascale
- Coste, Cécile
- Coudrot, Jean-Louis
- Coutant-Daydé, Coraline
- Cueille, Sophie
- Davy, Christian
- Degueurce, Christophe
- Denis, Bernard
- Dhermy, Arnaud
- Digard, Jean-Pierre
- Doucet, Corinne
- Drigeard, Gisèle
- d’Espèrey, Patrice Franchet
- Even, Pascal
- Galey, Bertrand-Pierre
- Grenet, Sylvie
- Hanot, Pauline
- Jaille, Nathalie Giffard de la
- Jelen, Amandine
- Kinossian, Yves
- Lavarde, Véronique Latreille de
- Lepetz, Sébastien
- Libourel, Jean-Louis
- Marie, Tanneguy de Sainte
- Pagès, Alain
- Piernas, Gersende
- Salvador, Jean-Louis
- Talon, Alain
- Toffoli, Pascal De
- Verry, Élisabeth
- Vial, Charles-Éloi
2012
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- Ieee Journal Of The Electron Devices Society
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- Japanese Journal Of Applied Physics
- Japanese Journal Of Applied Physics Part 2-Letters
- Japanese Journal Of Applied Physics, Part 2: Letters
- Japanese Journal Of Applied Physics. Pt. 2, Letters
- Journal Of Structural Geology