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Journal of electronic testing, 2023-08, Vol.39 (4), p.409-420
2023
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2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2022, p.1610-1614
2022
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2022 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2022, p.185-189
2022
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2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS), 2022, p.1-6
2022
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2022 35th SBC/SBMicro/IEEE/ACM Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), 2022, p.1-6
2022
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2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023, p.1-5
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2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS), 2021, p.1-6
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2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-9
2020
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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium (LATS), 2018, p.1-6
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2018 25th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2018, p.433-436
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VLSI-SoC: New Technology Enabler, 2020, Vol.586, p.69-88
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