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IEEE transactions on electron devices, 2023-07, Vol.70 (7), p.3928-3934
2023
- Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2021-04, Vol.68 (4), p.2107-2115
2021
- Link zum Volltext
Solid-state electronics, 2010-09, Vol.54 (9), p.855-860
2010
Link zum Volltext
Solid-state electronics, 2013-06, Vol.84, p.22-27
2013
Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2006-10, Vol.53 (10), p.2627-2633
2006
- Link zum Volltext
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2024-06, p.1-1
2024
- Link zum Volltext
Journal of applied physics, 2018-10, Vol.124 (16)
2018
Link zum Volltext
2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T198-T199
- Kim, M.-S.
- Harada, N.
- Kikuchi, Y.
- Boemmels, J.
- Mitard, J.
- Huynh-Bao, T.
- Matagne, P.
- Tao, Z.
- Li, W.
- Devriendt, K.
- Ragnarsson, L.-A.
- Lorant, C.
- Sebaai, F.
- Porret, C.
- Rosseel, E.
- Dangol, A.
- Batuk, D.
- Martinez-Alanis, G.
- Geypen, J.
- Jourdan, N.
- Sepulveda, A.
- Puliyalil, H.
- Jamieson, G.
- van der Veen, M.
- Teugels, L.
- El-Mekki, Z.
- Altamirano-Sanchez, E.
- Li, Y.
- Nakamura, H.
- Mocuta, D.
- Masuoka, F.
2019
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2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.5A.4.1-5A.4.6
2012
- Link zum Volltext
2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016, p.4B-2-1-4B-2-7
2016
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.2B-3.1-2B-3.5
2017
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2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.274-277
2014
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2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016, p.131-134
2016
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2018 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2018, p.45-48
2018
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Materials science & engineering. R, Reports : a review journal, 2006-04, Vol.51 (4), p.37-85
2006
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IEEE transactions on electron devices, 2019-12, Vol.66 (12), p.5387-5392
2019
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Journal of applied physics, 2009-03, Vol.105 (5), p.053516-053516-8
2009
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2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.26-32
2010
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Microelectronic engineering, 2011-07, Vol.88 (7), p.1317-1322
2011
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IEEE electron device letters, 2008-07, Vol.29 (7), p.743-745
2008
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.36.5.1-36.5.4
2019
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IEEE electron device letters, 2003-11, Vol.24 (11), p.689-691
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IEEE transactions on electron devices, 2007-07, Vol.54 (7), p.1771-1775
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2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.3C.4.1-3C.4.6
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.41.4.1-41.4.4
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