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Methods in molecular biology (Clifton, N.J.), 2024, Vol.2787, p.315
2024
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Journal of electronic testing, 2008-06, Vol.24 (1-3), p.165-179
2008
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Proceedings 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2001, p.366-374
2001













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