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Microelectronic engineering, 2006-04, Vol.83 (4), p.1170-1173
2006
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Microelectronic engineering, 2008-05, Vol.85 (5-6), p.1425-1428
2008
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Microelectronic engineering, 2006-04, Vol.83 (4), p.1551-1554
2006
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Microelectronic engineering, 2004-06, Vol.73-74, p.346-350
2004
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Microelectronic engineering, 2004-06, Vol.73 (SI), p.346-350
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2003-11, Vol.21 (6), p.2975-2979
2003
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2005-07, Vol.16 (7), p.433-436
2005
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Microelectronics and reliability, 2005-05, Vol.45 (5-6), p.953-956
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Science (American Association for the Advancement of Science), 2020-03, Vol.367 (6484), p.1340
2020
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Microelectronic engineering, 2004-10, Vol.76 (1-4), p.354-359
2004
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European journal of nuclear medicine and molecular imaging, 2019-12, Vol.46 (13), p.2848-2858
2019
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Journal of neurology, 2018-11, Vol.265 (11), p.2713-2722
2018
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