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Presses universitaires de Vincennes, 2024-10, p.150-164
2024
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Marges, 2024, Vol.39, p.150-164
2024
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Journal of electronic testing, 2005-04, Vol.21 (2), p.127-134
2005
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 1999-10, Vol.48 (5), p.932-938
1999
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Journal of electronic testing, 2005, Vol.1
2005
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Adaptive architecture for CMOS BICS
Electronics letters, 1999-08, Vol.35 (17), p.1407-1409
1999
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Adaptative Architecture for CMOS BICS
Electronics letters, 1999, Vol.35
1999
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Microelectronic engineering, 1996, Vol.31 (1), p.79-86
1996
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3.3 V CMOS built-in current sensor
Electronics letters, 1997-02, Vol.33 (5), p.345-346
1997
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3.3V Built-In Current Sensor
Electronics letters, 1997, Vol.33
1997
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North Carolina Journal of Outdoor Education, 1984, Vol.3 (1), p.16
1984
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Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat. No.98EX232), 1998, p.59-63
1998
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Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop (Cat. No.PR00646), 2000, p.100-103
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IEE proceedings. Circuits, devices, and systems, 1997, Vol.144 (3), p.149
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Proceedings Seventh International On-Line Testing Workshop, 2001, p.111-113
2001
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IEE proceedings. Circuits, devices, and systems, 1998, Vol.145 (4), p.213
1998
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Digest of Papers IEEE International Workshop on IDDQ Testing, 1997, p.85-89
1997
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On chip I/sub DDX/ sensor
Digest of Papers 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing, 1996, p.64-67
1996
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