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2002
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2013 Symposium on VLSI Technology, 2013, p.T124-T125
2013
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Solid-state electronics, 2016-02, Vol.116, p.8-11
2016
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Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2012, 2012, p.1-7
2012
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The lancet oncology, 2013-06, Vol.14 (7), p.619-626
- Mauguen, Audrey, MSc
- Pignon, Jean-Pierre, Dr
- Burdett, Sarah, MSc
- Domerg, Caroline, MSc
- Fisher, David, MSc
- Paulus, Rebecca, BS
- Mandrekar, Samithra J, PhD
- Belani, Chandra P, Prof
- Shepherd, Frances A, MD
- Eisen, Tim, Prof
- Pang, Herbert, PhD
- Collette, Laurence, PhD
- Sause, William T, MD
- Dahlberg, Suzanne E, PhD
- Crawford, Jeffrey, Prof
- O'Brien, Mary, MD
- Schild, Steven E, MD
- Parmar, Mahesh, DPhil
- Tierney, Jayne F, PhD
- Pechoux, Cécile Le, MD
- Michiels, Stefan, PhD
2013
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ESSDERC 2023 - IEEE 53rd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2023, p.101-104
- Cremer, S.
- Pelloux, N.
- Gianesello, F.
- Mourier, Y.
- Haury, G.
- de Albuquerque, T. Chaves
- Monsieur, F.
- Audouin, H.
- Legrand, C. A.
- Diouf, C.
- Goncalves, J. Azevedo
- Belem Goncalves, C.
- Durand, C.
- Vulliet, N.
- Berthier, L.
- Souchier, E.
- Garcia, P.
- Jan, S.
- Hello, M.
- Rellier, M. L.
- Scheer, P.
- Duriez, B.
- Garros, X.
- Bordignon, T.
- Paillardet, F.
- Chevalier, P.
2023
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2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2016, p.131-134
2016
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2013 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2013, p.222-225
2013
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BMC infectious diseases, 2015-11, Vol.15 (494), p.496-496, Article 496
2015
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2000
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2011 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, 2011, p.1-4
2011
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.34.4.1-34.4.4
- Chevalier, P.
- Gianesello, F.
- Pallotta, A.
- Goncalves, J. Azevedo
- Bertrand, G.
- Borrel, J.
- Boissonnet, L.
- Brezza, E.
- Buczko, M.
- Canderle, E.
- Celi, D.
- Cremer, S.
- Derrier, N.
- Diouf, C.
- Durand, C.
- Foussadier, F.
- Garcia, P.
- Guitard, N.
- Fleury, A.
- Gauthier, A.
- Kermarrec, O.
- Lajoinie, J.
- Legrand, C.A.
- Milon, V.
- Monsieur, F.
- Mourier, Y.
- Muller, D.
- Ney, D.
- Paulin, R.
- Pelloux, N.
- Renard, C.
- Rellier, M.L.
- Scheer, P.
- Sicard, I.
- Vulliet, N.
- Juge, A.
- Granger, E.
- Gloria, D.
- Uginet, J.
- Garchery, L.
- Paillardet, F.
2020
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2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p.7.3.1-7.3.4
2013
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KES'2000. Fourth International Conference on Knowledge-Based Intelligent Engineering Systems and Allied Technologies. Proceedings (Cat. No.00TH8516), 2000, Vol.1, p.385-388 vol.1
2000
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Journal of electronic imaging, 2001-01, Vol.10 (1), p.274
2001
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Acta gastro-enterologica belgica, 2009-10, Vol.72 (4), p.389-393
2009
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Close Encounters of Empire, 2020, p.333-368
2020
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EOS/ESD 2008 - 2008 30th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2008, p.67-75
2008
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2013 Symposium on VLSI Circuits, 2013, p.T124-T125
2013
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2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2007, p.3A.2-1-3A.2-10
2007
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EOS/ESD 2008 - 2008 30th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2008, p.88-93
2008
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Close Encounters of Empire, 2020, p.269-310
2020
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Close Encounters of Empire, 2020, p.497-514
2020
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