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2014
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IEEE electron device letters, 2015-01, Vol.36 (1), p.11-13
2015
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2012
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2017
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2014
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Materials science forum, 2015-06, Vol.821-823, p.910-913
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IEEE transactions on nuclear science, 2014-08, Vol.61 (4), p.1772-1776
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IEEE electron device letters, 2014-07, Vol.35 (7), p.693
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2013
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IEEE electron device letters, 2013, Vol.34 (9), p.1091-1093
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2016
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IEEE transactions on electron devices, 2016-06, Vol.63 (6), p.2242-2247
2016
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IEEE transactions on electron devices, 2016-06, Vol.63 (6), p.2242-2247
2016
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Materials science forum, 2015-06, Vol.821-823, p.897-901
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2016-09, Vol.63 (9), p.3445-3450
2016
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IEEE transactions on electron devices, 2016-09, Vol.63 (9), p.3445-3450
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IEEE transactions on electron devices, 2016, Vol.63 (9), p.3445
2016
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2016 European Conference on Silicon Carbide & Related Materials (ECSCRM), 2017-05, Vol.897, p.1-1, Article 681
2017
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Semiconductor science and technology, 2017, Vol.32 (3), p.34002
2017
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IEEE electron device letters, 2013-09, Vol.34 (9), p.1091-1093
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2015, Vol.62 (6), p.1953
2015
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HOTSiC, 2016-05, Vol.858, p.921-924
2016
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Materials Science Forum, 2014-01, Vol.778-780, p.1005-1008
2014
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