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2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2003, p.1094-1095
2003
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Vaccine, 2008-06, Vol.26 (26), p.3192-3196
2008
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Oxide Reliability of SiC MOS Devices
2008 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2008, p.141-144
2008
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IEEE electron device letters, 2008-09, Vol.29 (9), p.1065-1067
2008
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European neuropsychopharmacology, 2004-10, Vol.14, p.S311-S311
2004
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Journal of gastroenterology and hepatology, 2000-10, Vol.15 (10), p.1100-1104
2000
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Pediatric nephrology (Berlin, West), 2001-12, Vol.16 (12), p.1049-1052
2001
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International journal of gynecology and obstetrics, 2000, Vol.70 (S2), p.B113-B113
2000
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1993-05, Vol.41 (5), p.814-819
1993
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2009 IEEE International Conference on Control and Automation, 2009, p.367-372
2009
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