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Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.1998-2004
2012
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IEEE electron device letters, 2020-01, Vol.41 (1), p.12-14
2020
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IEEE electron device letters, 2020-01, Vol.41 (1), p.12-14
2020
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Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1563-1568
2006
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1811-1815
2004
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2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-6
2019
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Journal of aerosol science, 2001-09, Vol.32, p.863-864
2001
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2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2007, p.6A.4-1-6A.4-9
2007
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