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2017
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2020
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2016
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Analyzing Radiation-Induced Transient Errors on SRAM-Based FPGAs by Propagation of Broadening Effect
2019
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2021
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2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2019, p.1-6
2019
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IEEE access, 2018, Vol.6, p.59074-59086
2018
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IEEE access, 2018-01, Vol.6, p.36771-36779
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Optics letters, 2023-11, Vol.48 (21), p.5803-5806
2023
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Intelligent Autonomous Systems 14, p.601-613
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Visual Intelligence, 2023-11, Vol.1 (1), Article 28
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IEEE transactions on signal processing, 2020, Vol.68, p.3644-3659
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Microelectronics and reliability, 2020-06, Vol.109, p.113660, Article 113660
2020
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Journal of physics. D, Applied physics, 2024-06, Vol.57 (23), p.235501
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Theoretical prediction of two-dimensional CrSi2N4 as a potential anode material for Na-ion batteries
2024
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Microelectronics and reliability, 2021-05, Vol.120, p.114122, Article 114122
2021
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IET control theory & applications, 2017-03, Vol.11 (5), p.647-667
2017
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Neural processing letters, 2021-08, Vol.53 (4), p.2795-2811
2021
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Journal of control and decision, 2022-10, Vol.9 (4), p.477-488
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Journal of systems architecture, 2017-04, Vol.75, p.95-106
2017
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IEEE systems journal, 2022-06, Vol.16 (2), p.1-12
2022
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IEEE transactions on nuclear science, 2019-07, Vol.66 (7), p.1813-1819
2019
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2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016, p.1-7
2016
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Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.58-63
2017
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2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2018, p.1-52
2018
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