Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Solid-state electronics, 2010-09, Vol.54 (9), p.855-860
2010
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2017-11, Vol.64 (11), p.4587-4593
- Witters, L.
- Arimura, H.
- Sebaai, F.
- Hikavyy, A.
- Milenin, A. P.
- Loo, R.
- De Keersgieter, A.
- Eneman, G.
- Schram, T.
- Wostyn, K.
- Devriendt, K.
- Schulze, A.
- Lieten, R.
- Bilodeau, S.
- Cooper, E.
- Storck, P.
- Chiu, E.
- Vrancken, C.
- Favia, P.
- Vancoille, E.
- Mitard, J.
- Langer, R.
- Opdebeeck, A.
- Holsteyns, F.
- Waldron, N.
- Barla, K.
- De Heyn, V.
- Mocuta, D.
- Collaert, N.
2017
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2022-12, Vol.69 (12), p.7173-7179
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Radisic, D.
- Chen, R.
- Arutchelvan, G.
- O'Sullivan, B.
- Arimura, H.
- Stucchi, M.
- De Keersgieter, A.
- Hosseini, M.
- Hopf, T.
- D'have, K.
- Wang, S.
- Dupuy, E.
- Mannaert, G.
- Vandersmissen, K.
- Iacovo, S.
- Marien, P.
- Choudhury, S.
- Schleicher, F.
- Sebaai, F.
- Oniki, Y.
- Zhou, X.
- Gupta, A.
- Schram, T.
- Briggs, B.
- Lorant, C.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Loo, R.
- Geypen, J.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Soulie, J. P.
- Devriendt, K.
- Chan, B. T.
- Demuynck, S.
- Hiblot, G.
- Van der Plas, G.
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2022
Volltextzugriff (PDF)
2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Mertens, H.
- Ritzenthaler, R.
- Hikavyy, A.
- Kim, M. S.
- Tao, Z.
- Wostyn, K.
- Chew, S. A.
- De Keersgieter, A.
- Mannaert, G.
- Rosseel, E.
- Schram, T.
- Devriendt, K.
- Tsvetanova, D.
- Dekkers, H.
- Demuynck, S.
- Chasin, A.
- Van Besien, E.
- Dangol, A.
- Godny, S.
- Douhard, B.
- Bosman, N.
- Richard, O.
- Geypen, J.
- Bender, H.
- Barla, K.
- Mocuta, D.
- Horiguchi, N.
- Thean, A. V-Y
2016
Volltextzugriff (PDF)
2022 International Conference on IC Design and Technology (ICICDT), 2022, p.51-54
2022
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2016-09, Vol.37 (9), p.1084-1087
2016
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023, p.1-2
- Mertens, H.
- Hosseini, M.
- Chiarella, T.
- Zhou, D.
- Wang, S.
- Mannaert, G.
- Dupuy, E.
- Radisic, D.
- Tao, Z.
- Oniki, Y.
- Hikavyy, A.
- Rosseel, R.
- Mingardi, A.
- Choudhury, S.
- Gowda, P. Puttarame
- Sebaai, F.
- Peter, A.
- Vandersmissen, K.
- Soulie, J.P.
- Keersgieter, A. De
- Lima, L. Petersen Barbosa
- Cavalcante, C.
- Batuk, D.
- Martinez, G.T.
- Geypen, J.
- Seidel, F.
- Paulussen, K.
- Favia, P.
- Boemmels, J.
- Loo, R.
- Wong, P.
- Marquez, A. Sepulveda
- Chan, B.T.
- Mitard, J.
- Subramanian, S.
- Demuynck, S.
- Litta, E. Dentoni
- Horiguchi, N.
- Samavedam, S.
- Biesemans, S.
2023
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2007-06, Vol.54 (6), p.1446-1453
2007
Volltextzugriff (PDF)
2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T138-T139
2015
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2011-11, Vol.32 (11), p.1501-1503
2011
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2002-03, Vol.49 (3), p.507-513
2002
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2005-11, Vol.26 (11), p.820-822
2005
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 2000-07, Vol.47 (7), p.1484-1491
2000
Volltextzugriff (PDF)
2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T30-T31
2015
Volltextzugriff (PDF)
2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167), 2001, p.360-366
2001
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2011-11, Vol.65-66, p.205-210
2011
Volltextzugriff (PDF)
2023 21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2023, p.1-5
2023
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2021-07, Vol.122, p.114156, Article 114156
2021
Volltextzugriff (PDF)
2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p.12.3.1-12.3.4
2013
Volltextzugriff (PDF)
Materials science in semiconductor processing, 2017-05, Vol.62, p.2-12
2017
Volltextzugriff (PDF)
2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021, p.1-3
2021
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2008-09, Vol.52 (9), p.1291-1296
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE journal of quantum electronics, 2010-12, Vol.46 (12), p.1763-1768
2010
Volltextzugriff (PDF)
2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.161-162
2010
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2003-04, Vol.24 (4), p.278-280
2003
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Physics
- Physics, Applied
- Finfets
- Logic Gates
- Transistors
- Silicon
- Stress
- Doping
- Exact Sciences And Technology
- Applied Sciences
- Degradation
- Electronics
- Semiconductor Electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid State Devices
- Annealing
- Implants
Kollektion
- IEEE Xplore
- Ingenta
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- EZB Electronic Journals Library
- Publisher or Other Site
- MEDLINE
- Wiley-Blackwell Journals
- Oxford Journals Online Current
- eBooks on EBSCOhost
- Oxford Journals 2020 Medicine
- IngentaConnect Journals
- Wiley Online Library Full Collection 2018
- Journals@Ovid Full Text
- AIP Journals Complete
- Ebook Central Perpetual and DDA
- Taylor & Francis Online
- ScienceDirect eBooks
- SpringerLink Series
- Taylor & Francis Journals
Zeitschrift / Serie