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IEEE electron device letters, 2003-01, Vol.24 (1), p.37-39
2003
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Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1), p.149-153
2004
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Microelectronics and reliability, 2001-07, Vol.41 (7), p.1053-1056
2001
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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2004-05, Vol.17 (2), p.150-154
2004
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Applied surface science, 2003-01, Vol.203-204, p.414-417
2003
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Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516), 2004, p.297-301
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Applied surface science, 2003, Vol.203-04, p.414-417
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31st European Solid-State Device Research Conference, 2001, p.431-434
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31st European Solid-State Device Research Conference, 2001, p.147-150
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International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003, 2003, p.181-185
2003
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Journal of physics. B, Atomic, molecular, and optical physics, 2011-09, Vol.44 (17), p.175208-1-8
2011
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