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Physical review letters, 2009-06, Vol.102 (22), p.226801-226801, Article 226801
2009
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Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2015, p.163-168
2015
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2018 IEEE 30th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2018, p.200-203
2018
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2017 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2017, p.113-116
2017
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High Mobility Materials for CMOS Applications, 2018, p.1-1
2018
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Notes and queries, 1992-09, Vol.39 (3), p.322-326
1992
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The European respiratory journal, 2011-09, Vol.38 (3), p.567-574
2011
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Nature physics, 2019-08, Vol.15 (8), p.754-758
2019
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