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European journal of international law, 2012-05, Vol.23 (2), p.377-400
2012
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IEEE electron device letters, 2019-05, Vol.40 (5), p.784-787
2019
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Neurología (Barcelona, English ed. ), 2024-05, Vol.39 (4), p.340-344
2024
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IEEE transactions on electron devices, 2018-09, Vol.65 (9), p.3682-3688
2018
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Neurología (Barcelona, English ed. ), 2024-05, Vol.39 (4), p.340-344
2024
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2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), 2012, p.133-134
- Planes, N.
- Weber, O.
- Barral, V.
- Haendler, S.
- Noblet, D.
- Croain, D.
- Bocat, M.
- Sassoulas, P.
- Federspiel, X.
- Cros, A.
- Bajolet, A.
- Richard, E.
- Dumont, B.
- Perreau, P.
- Petit, D.
- Golanski, D.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Guillot, N.
- Rafik, M.
- Huard, V.
- Puget, S.
- Montagner, X.
- Jaud, M.
- Rozeau, O.
- Saxod, O.
- Wacquant, F.
- Monsieur, F.
- Barge, D.
- Pinzelli, L.
- Mellier, M.
- Boeuf, F.
- Arnaud, F.
- Haond, M.
2012
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IEEE transactions on electron devices, 2009-03, Vol.56 (3), p.420-430
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2009-03, Vol.56 (3), p.408-419
2009
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Evidences on the Physical Origin of the Unexpected Transport Degradation in Ultimate n-FDSOI Devices
2009
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Parasitology, 2001-05, Vol.122 (5), p.545-554
2001
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T50-T51
- Pasini, L.
- Batude, P.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Sklenard, B.
- Luce, F. Piegas
- Reboh, S.
- Bernier, N.
- Tabone, C.
- Rozeau, O.
- Martini, S.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Brunet, L.
- Audoit, G.
- Lafond, D.
- Aussenac, F.
- Allain, F.
- Romano, G.
- Barraud, S.
- Rambal, N.
- Barral, V.
- Hutin, L.
- Hartmann, J.-M
- Besson, P.
- Kerdiles, S.
- Haond, M.
- Ghibaudo, G.
- Vinet, M.
2015
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Solid-state electronics, 2016-03, Vol.117, p.130-137
2016
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2013
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Cavalcante, C.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Batude, P.
- Garros, X.
- Federspiel, X.
- Lacord, J.
- Kerdiles, S.
- Royet, A. S.
- Acosta-Alba, P.
- Rozeau, O.
- Barral, V.
- Arnaud, F.
- Planes, N.
- Sassoulas, P. O.
- Ghegin, E.
- Beneyton, R.
- Gregoire, M.
- Weber, O.
- Guerin, C.
- Arnaud, L.
- Moreau, S.
- Kies, R.
- Romano, G.
- Rambal, N.
- Magalhaes, A.
- Ghibaudo, G.
- Colinge, J. P.
- Vinet, M.
- Andrieu, F.
2020
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Solid-state electronics, 2016-03, Vol.117, p.130-137
2016
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Parasitology, 1996-12, Vol.113 ( Pt 6), p.511
1996
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Solid-state electronics, 2015-06, Vol.108, p.47-52
2015
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2014 15th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2014, p.53-56
2014
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2014 SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2014, p.1-3
2014
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2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.3C.3.1-3C.3.3
2014
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IEEE transactions on electron devices, 2009-01, Vol.56 (3)
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2009-01, Vol.56 (3)
2009
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2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.106-109
2014
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2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.222-225
2014
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Canadian journal of psychiatry, 1992-03, Vol.37 (2), p.130
1992
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