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Thin solid films, 2008-04, Vol.516 (11), p.3502-3506
2008
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2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.495-500
2005
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Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729), 2004, p.187-189
2004
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