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2023
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Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7), p.1789-1795
- Kittl, J.A.
- Opsomer, K.
- Popovici, M.
- Menou, N.
- Kaczer, B.
- Wang, X.P.
- Adelmann, C.
- Pawlak, M.A.
- Tomida, K.
- Rothschild, A.
- Govoreanu, B.
- Degraeve, R.
- Schaekers, M.
- Zahid, M.
- Delabie, A.
- Meersschaut, J.
- Polspoel, W.
- Clima, S.
- Pourtois, G.
- Knaepen, W.
- Detavernier, C.
- Afanas’ev, V.V.
- Blomberg, T.
- Pierreux, D.
- Swerts, J.
- Fischer, P.
- Maes, J.W.
- Manger, D.
- Vandervorst, W.
- Conard, T.
- Franquet, A.
- Favia, P.
- Bender, H.
- Brijs, B.
- Van Elshocht, S.
- Jurczak, M.
- Van Houdt, J.
- Wouters, D.J.
2009
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Journal of applied physics, 2017-01, Vol.121 (4)
2017
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Journal of applied physics, 2002-12, Vol.92 (12), p.7168-7174
2002
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Journal of applied physics, 2009-11, Vol.106 (9)
- Menou, N.
- Popovici, M.
- Clima, S.
- Opsomer, K.
- Polspoel, W.
- Kaczer, B.
- Rampelberg, G.
- Tomida, K.
- Pawlak, M. A.
- Detavernier, C.
- Pierreux, D.
- Swerts, J.
- Maes, J. W.
- Manger, D.
- Badylevich, M.
- Afanasiev, V.
- Conard, T.
- Favia, P.
- Bender, H.
- Brijs, B.
- Vandervorst, W.
- Van Elshocht, S.
- Pourtois, G.
- Wouters, D. J.
- Biesemans, S.
- Kittl, J. A.
2009
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Nanoscale, 2016-02, Vol.8 (6), p.3629-3637
2016
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Applied physics letters, 2004-01, Vol.84 (2), p.260-262
2004
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Applied surface science, 2006-09, Vol.252 (23), p.8270-8276
2006
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Solid state phenomena, 2005-04, Vol.103-104, p.27-30
2005
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Applied surface science, 2004-07, Vol.235 (1-2), p.21-25
2004
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Journal of applied physics, 2011-10, Vol.110 (8), p.084907-084907-8
2011
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Microelectronic engineering, 2011-05, Vol.88 (5), p.690-693
2011
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Applied physics letters, 2005-12, Vol.87 (26), p.262905-262905-3
2005
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Applied surface science, 2004-06, Vol.231, p.618-631
2004
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-06, Vol.109 (1-3), p.85-88
2004
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ECS solid state letters, 2013-09, Vol.2 (11), p.P104-P106
2013
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ECS journal of solid state science and technology, 2015-01, Vol.4 (1), p.N3140-N3145
2015
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Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, 2010-01, Vol.28 (1), p.C1-C1C70
2010
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Performance improvement in narrow MuGFETs by gate work function and source/drain implant engineering
2009
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 2008-07, Vol.26 (4), p.724-730
2008
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.209-213
2009
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ECS transactions, 2009, Vol.25 (5), p.179-186
2009
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ECS transactions, 2009, Vol.25 (5), p.187-194
2009
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Solid state phenomena, 2012, Vol.187, p.207-210
2012
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Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-06, Vol.109 (1-3), p.60-63
2004
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