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2005
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Journal of electronic materials, 2008-08, Vol.37 (8), p.1095-1101
2008
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Electrochimica acta, 2009-03, Vol.54 (9), p.2504-2508
2009
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Applied physics letters, 2005-08, Vol.87 (6), p.061905-061905-3
2005
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Microelectronic engineering, 2011-05, Vol.88 (5), p.701-704
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2006-11, Vol.53 (11), p.2696-2702
2006
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Journal of micromechanics and microengineering, 2009-04, Vol.19 (4), p.045015-045015 (12)
2009
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Journal of micromechanics and microengineering, 2008-12, Vol.18 (12), p.125008-125008 (9)
2008
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IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2011-01, Vol.1 (1), p.133-149
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2006-10, Vol.53 (10), p.2658-2661
2006
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Microelectronic engineering, 2008-10, Vol.85 (10), p.1947-1951
2008
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ECS transactions, 2014-02, Vol.58 (17), p.3-15
2014
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IEEE journal of solid-state circuits, 2011-01, Vol.46 (1), p.293-307
- Van der Plas, G
- Limaye, P
- Loi, I
- Mercha, A
- Oprins, H
- Torregiani, C
- Thijs, S
- Linten, D
- Stucchi, M
- Katti, G
- Velenis, D
- Cherman, V
- Vandevelde, B
- Simons, V
- De Wolf, I
- Labie, R
- Perry, D
- Bronckers, S
- Minas, N
- Cupac, M
- Ruythooren, W
- Van Olmen, J
- Phommahaxay, A
- de Potter de ten Broeck, M
- Opdebeeck, A
- Rakowski, M
- De Wachter, B
- Dehan, M
- Nelis, M
- Agarwal, R
- Pullini, A
- Angiolini, F
- Benini, L
- Dehaene, W
- Travaly, Y
- Beyne, E
- Marchal, P
2011
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Journal of micromechanics and microengineering, 2000-06, Vol.10 (2), p.101-107
2000
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IEEE transactions on magnetics, 2002-09, Vol.38 (5), p.3498-3500
2002
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Journal of the Electrochemical Society, 2004, Vol.151 (5), p.C315
2004
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Journal of the Electrochemical Society, 2010, Vol.157 (4), p.D242
2010
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2010 Symposium on VLSI Technology, 2010, p.109-110
- Mercha, A
- Redolfi, A
- Stucchi, M
- Minas, N
- Van Olmen, J
- Thangaraju, S
- Velenis, D
- Domae, S
- Yang, Y
- Katti, G
- Labie, R
- Okoro, C
- Zhao, M
- Asimakopoulos, P
- De Wolf, I
- Chiarella, T
- Schram, T
- Rohr, E
- Van Ammel, A
- Jourdain, A
- Ruythooren, W
- Armini, S
- Radisic, A
- Philipsen, H
- Heylen, N
- Kostermans, M
- Jaenen, P
- Sleeckx, E
- Sabuncuoglu Tezcan, D
- Debusschere, I
- Soussan, P
- Perry, D
- Van der Plas, G
- Cho, J H
- Marchal, P
- Travaly, Y
- Beyne, E
- Biesemans, S
- Swinnen, B
2010
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Scaling effects in AlGaN/GaN HEMTs: Comparison between Monte Carlo simulations and experimental data
2006
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Physica status solidi. C, 2005-01, Vol.2 (7), p.2655-2658
2005
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2010 IEEE International Solid-State Circuits Conference - (ISSCC), 2010, p.148-149
- Van der Plas, G.
- Limaye, P.
- Mercha, A.
- Oprins, H.
- Torregiani, C.
- Thijs, S.
- Linten, D.
- Stucchi, M.
- Guruprasad, K.
- Velenis, D.
- Shinichi, D.
- Cherman, V.
- Vandevelde, B.
- Simons, V.
- De Wolf, I.
- Labie, R.
- Perry, D.
- Bronckers, S.
- Minas, N.
- Cupac, M.
- Ruythooren, W.
- Van Olmen, J.
- Phommahaxay, A.
- de Potter de ten Broeck, M.
- Opdebeeck, A.
- Rakowski, M.
- De Wachter, B.
- Dehan, M.
- Nelis, M.
- Agarwal, R.
- Dehaene, W.
- Travaly, Y.
- Marchal, P.
- Beyne, E.
2010
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Electrochemical and solid-state letters, 2009, Vol.12 (5), p.D39
2009
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ECS transactions, 2010, Vol.25 (27), p.175-184
2010
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IEEE transactions on magnetics, 1999-09, Vol.35 (5), p.3577-3579
1999
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ECS transactions, 2007, Vol.6 (8), p.123-133
2007
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