Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Frequency characterization and modeling of interface traps in HfSixOy/HfO2 gate dielectric stack from a capacitance point-of-view
Applied physics letters, 2002-10, Vol.81 (18), p.3392-3394
2002
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Conduction mechanisms in Ta2O5/SiO2 and Ta2O5/Si3N4 stacked structures on Si
Journal of applied physics, 1999-07, Vol.86 (1), p.480-486
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Properties of amorphous and crystalline Ta2O5 thin films deposited on Si from a Ta(OC2H5)5 precursor
Journal of applied physics, 1998-05, Vol.83 (9), p.4823-4829
1998
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Modeling negative bias temperature instabilities in hole channel metal–oxide–semiconductor field effect transistors with ultrathin gate oxide layers
Journal of applied physics, 2004-03, Vol.95 (5), p.2786-2791
2004
Volltextzugriff (PDF)
Open Access
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Simulations of threshold voltage instabilities in HfySiOx and SiO2/HfySiOx-based field-effect transistors
Applied physics letters, 2003-12, Vol.83 (24), p.5065-5067
2003
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Interfacial hardness enhancement in deuterium annealed 0.25 μm channel metal oxide semiconductor transistors
Applied physics letters, 1997-06, Vol.70 (22), p.2999-3001
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Theoretical investigation of incomplete ionization of dopants in 6H–SiC metal-oxide-semiconductor capacitors
Journal of applied physics, 1999-08, Vol.86 (4), p.2232-2236
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Electrical characterization of instabilities in 6H silicon carbide metal-oxide-semiconductor capacitors
Journal of applied physics, 1994-07, Vol.76 (2), p.993-997
1994
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Comparison of trapping–detrapping properties of mobile charge in alkali contaminated metal-oxide-silicon carbide structures
Applied physics letters, 1995-05, Vol.66 (18), p.2340-2342
1995
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Characterization of Si-SiO sub 2 interface states: comparison between different charge pumping and capacitance techniques
Journal of applied physics, 1993-01, Vol.74 (6), p.3932-3935
1993
Volltextzugriff (PDF)
1 – 10 von 10
Suche als RSS-Feed
Aktive Filter
ThemaExact Sciences And Technology
KollektionAmerican Institute of Physics
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen