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IEEE transactions on terahertz science and technology, 2023, Vol.13 (1), p.67
2023
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IEEE transactions on terahertz science and technology, 2016-01, Vol.6 (1), p.83-90
2016
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2016 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC), 2016, p.418-424
2016
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IEEE transactions on computers, 2019-11, Vol.68 (11), p.1647-1662
2019
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2016 53nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2016, p.1-6
2016
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IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2020-04, Vol.67 (4), p.1319-1332
2020
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2020-11, Vol.39 (11), p.3361-3372
2020
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2020-11, Vol.39 (11), p.3152-3164
2020
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IEEE transactions on parallel and distributed systems, 2020-07, Vol.31 (7), p.1605-1620
2020
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Elektrotechnik und Informationstechnik, 2022-02, Vol.139 (1), p.16-24
2022
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.1578-1581
2020
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2017 54th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2017, p.1-6
2017
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IEEE transactions on computers, 2020-01, Vol.69 (1), p.1-22
2020
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IEEE transactions on computers, 2017-06, Vol.66 (6), p.957-970
2017
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Journal of low power electronics and applications, 2020-12, Vol.10 (4), p.38
2020
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2019 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2019, p.1-5
2019
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.630-633
2020
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Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1066-1074
- Herkersdorf, Andreas
- Aliee, Hananeh
- Engel, Michael
- Glaß, Michael
- Gimmler-Dumont, Christina
- Henkel, Jörg
- Kleeberger, Veit B.
- Kochte, Michael A.
- Kühn, Johannes M.
- Mueller-Gritschneder, Daniel
- Nassif, Sani R.
- Rauchfuss, Holm
- Rosenstiel, Wolfgang
- Schlichtmann, Ulf
- Shafique, Muhammad
- Tahoori, Mehdi B.
- Teich, Jürgen
- Wehn, Norbert
- Weis, Christian
- Wunderlich, Hans-Joachim
2014
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2014 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2014, p.1-6
2014
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2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS), 2012, p.1-1
2012
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