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Stacking fault reduction during annealing in Cu-poor CuInSe2 thin film solar cell absorbers analyzed by in situ XRD and grain growth modeling
Journal of applied physics, 2019-01, Vol.125 (3)
2019
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X-ray residual stress analysis on multilayer systems: an approach for depth-resolved data evaluation
Journal of applied crystallography, 2013-10, Vol.46 (5), p.1266-1276
2013
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Concepts for nondestructive and depth‐resolved X‐ray residual stress analysis in the near‐surface region of nearly single crystalline materials with mosaic structure
Journal of applied crystallography, 2021-02, Vol.54 (1), p.22-31
2021
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A multireflection and multiwavelength residual stress determination method using energy dispersive diffraction
Journal of applied crystallography, 2018-06, Vol.51 (3), p.732-745
2018
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Real time observation of high temperature oxidation and sulfidation of Fe‐Cr model alloys
Materials and corrosion, 2018-06, Vol.69 (6), p.678-689
2018
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Simultaneous X‐ray radioscopy/tomography and energy‐dispersive diffraction applied to liquid aluminium alloy foams
Journal of synchrotron radiation, 2018-11, Vol.25 (6), p.1790-1796
2018
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