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Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000
Ort / Verlag
Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 3540678867, 9783540678861
ISSN: 1431-472X
DOI: 10.1007/978-3-642-59802-9
Titel-ID: cdi_springer_books_10_1007_978_3_642_59802_9
Format
–
Schlagworte
Computer Science, Engineering, Pattern Recognition

Weiterführende Literatur

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