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2021
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2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, p.1-6
2016
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Journal of electronic testing, 2015-08, Vol.31 (4), p.349-359
2015
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2018-01, Vol.80, p.124-133
2018
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2019-10, Vol.38 (10), p.1956-1968
2019
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Journal of circuits, systems, and computers, 2019-12, Vol.28 (supp01), p.1940001
2019
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2014 International Test Conference, 2014, p.1-8
2014
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IEEE transactions on computers, 1995-02, Vol.44 (2), p.223-233
1995
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2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS), 2020, p.1-6
2020
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IEEE embedded systems letters, 2018-03, Vol.10 (1)
2018
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IEEE embedded systems letters, 2018-03, Vol.10 (1), p.1-1
2018
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IEEE embedded systems letters, 2018-03, Vol.10 (1), p.1-1
2018
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Science China. Information sciences, 2011-09, Vol.54 (9), p.1813-1826
2011
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Journal of electronic testing, 2014-10, Vol.30 (5), p.527-540
2014
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2023 IEEE 32nd Asian Test Symposium (ATS), 2023, p.1-6
2023
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2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
Volltextzugriff (PDF)
Information technology (Munich, Germany), 2014-08, Vol.56 (4), p.165-172
2014
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2019 IEEE International Test Conference (ITC), 2019, p.1-8
2019
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Information technology (Munich, Germany), 2010-08, Vol.52 (4), p.179-180
2010
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2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023, p.111-116
2023
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2018 IEEE 27th Asian Test Symposium (ATS), 2018, p.92-97
2018
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Information technology (Munich, Germany), 2014-08, Vol.56 (4), p.165-172
2014
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2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-10
2020
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2024 2nd International Symposium of Electronics Design Automation (ISEDA), 2024, p.787-787
2024
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2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), 2017, p.1-1
2017
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