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Electron interactions with tetramethylsilane from the ionization threshold up to 5000 eV
Plasma sources science & technology, 2021-09, Vol.30 (9), p.95012
2021

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electron interactions with tetramethylsilane from the ionization threshold up to 5000 eV
Ist Teil von
  • Plasma sources science & technology, 2021-09, Vol.30 (9), p.95012
Ort / Verlag
IOP Publishing
Erscheinungsjahr
2021
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0963-0252
eISSN: 1361-6595
DOI: 10.1088/1361-6595/ac12c2
Titel-ID: cdi_iop_journals_10_1088_1361_6595_ac12c2
Format
–
Schlagworte
34.80.Bm, 34.80.Gs, 34.80.Ht, ionization, numbers, partial ionization cross sections, plasma science, cross sections, BEB model, scatteriing

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