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Semiconductor science and technology, 1996-08, Vol.11 (8), p.1133-1136
1996

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Low-frequency noise used as a lifetime test of LEDs
Ist Teil von
  • Semiconductor science and technology, 1996-08, Vol.11 (8), p.1133-1136
Ort / Verlag
Bristol: IOP Publishing
Erscheinungsjahr
1996
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Low-frequency noise (1/f noise) has been measured in light emitting diodes (LEDs) which have been subjected to an accelerated life test by means of large forward bias current pulses. Over a large range of stress pulses the electrical and functional LED properties remain unaltered but an increase in the 1/f noise level was seen and this was correlated with the device reliability. The product `initial noise X initial rate of noise increase' correlated best with the LED lifetime.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0268-1242
eISSN: 1361-6641
DOI: 10.1088/0268-1242/11/8/002
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1088_0268_1242_11_8_002

Weiterführende Literatur

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