Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Quantitative Determination of Chemical Composition of Multinary III/V Semiconductors With Sublattice Resolution Using Aberration Corrected HAADF-STEM
Microscopy and microanalysis, 2015-08, Vol.21 (S3), p.2081-2082
2015

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Quantitative Determination of Chemical Composition of Multinary III/V Semiconductors With Sublattice Resolution Using Aberration Corrected HAADF-STEM
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2015-08, Vol.21 (S3), p.2081-2082
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2015
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927615011186
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1017_S1431927615011186
Format
–
Schlagworte
Microscopy, P02 Materials Problem Solving with Aberration-Corrected EM, Physical Science Symposia, Semiconductors

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX