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Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 1998-06, Vol.93 (1), p.251-257
Ort / Verlag
Elsevier B.V
Erscheinungsjahr
1998
Quelle
Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
Beschreibungen/Notizen
Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS) using a 1
keV electron beam has been used to obtain the reflectivity spectra and the complex dielectric constant of 3C-silicon carbide in the energy loss range 0–100
eV. The experimental results have been compared with the theoretical results obtained using the Linearized Muffin Tin Orbitals (LMTO–ASA) method. A reasonable agreement has been obtained between theory and experiment.